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Thorlabs 多模光纤跳线 弱自发荧光

更新时间:2023-02-08

简要描述:

Thorlabs 多模光纤跳线 弱自发荧光
弱自发荧光*(AF)光纤跳线,具有纤芯Ø400 µm、数值孔径0.50的多模光纤
非常适合具有GFP(激发波长470 nm)和RFP(激发波长565 nm)的光纤光度学应用

Thorlabs 多模光纤跳线 弱自发荧光

特性

  • 弱自发荧光*(AF)光纤跳线,具有纤芯Ø400 µm、数值孔径0.50的多模光纤

  • 非常适合具有GFP(激发波长470 nm)和RFP(激发波长565 nm)的光纤光度学应用

  • 接头选项:

    • 带样品的一端为FC/PC接头、Ø1.25 mm(LC)插芯或Ø2.5 mm(FC)插芯

    • 不带样品的一端为FC/PC接头

  • 黑色护套zui大程度地减少光泄漏

  • 跳线长度1 m

  • 可根据要求定制跳线,详情请联系技术支持

这些多模光纤跳线采用可减少发出可见光波段自发荧光的元件制造,非常适用于光纤光度学应用。在这些应用中,需要高灵敏度来测量指示样本内神经活动的荧光的变化。这些跳线的设计基于对裸纤、插芯类型和环氧树脂等跳线组件自发荧光特性的广泛研究。

每根跳线集成了纤芯Ø400 µm、数值孔径0.50的多模光纤(型号FP400URT),具有三种接头配置。跳线的一端为FC/PC接头,而另一端则为FC/PC接头、Ø1.25 mm不锈钢插芯或Ø2.5 mm不锈钢插芯。与我们标准的光遗传学光纤跳线相似,带插芯端的跳线可以通过互连件或匹配套管接合光纤针头。

每根跳线都带有两个保护帽,防止插芯端在不使用时受到灰尘污染或其他伤害。其他用于接头和插芯端的塑料保护帽、金属保护帽或螺纹保护帽都在这里单独出售。如果使用过程中光纤终端受到污染,我们也提供检查工具光纤清洁用品

光漂白

为了在实验过程中获得最佳性能,弱自发荧光跳线在使用前应进行光漂白测试。该过程使光纤和跳线组件中的荧光团饱和,从而最大限度地减少自发荧光的发射。因为自发荧光最终会在光漂白后恢复到稳态值(如图所示),每次在实验中使用跳线时都应重复此过程。有关所需设备和测试过程的更多信息,请看光漂白标签。

在产品测试过程中,我们比较了弱自发荧光跳线与标准跳线的自发荧光恢复能力。右图显示了在36天的时间内测得的每个测试跳线相对于输出功率的自发荧光。我们观察到,弱自发荧光跳线经过光漂白后具有较低的自发荧光比率,并且在测试期间,自发荧光恢复较慢。

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匹配套管和跳线兼容性
跳线和针头的插芯直径紧密关系到互连件和匹配套管的兼容性。使用Ø1.25 mm(LC)插芯的针头和跳线可以通过ADAL1匹配套管或ADAL3互连件连接。使用Ø2.5 mm(FC)插芯的跳线和针头兼容ADAF1匹配套管和ADAF2互连件。

*在470 nm和565 nm的激发波长下测试并验证弱自发荧光。其他波长下激发时性能可能不同。

Thorlabs 多模光纤跳线 弱自发荧光





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