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  • 如何清洁光学元件?

    2020-08-28 如何清洁光学元件?光学元件表面的灰尘、污点和杂质的清洁光学元件表面的灰尘和污点可以造成光的散射,而表面上的杂质可以和激光相互作用损坏光学镀膜。使用正确的清洁和维护方法可以有效避免光学元件的损坏,延长使用寿命。通用技巧如若不脏,不要清洁!处理光学元件会增加其被污染和损坏的几率。因此,除非在必要时才对光学元件进行清洁。当清洁光学元件时,应该在干净无尘的环境中进行,并佩戴无粉抗丙酮的手套或指套。皮肤分泌的油脂或脱落的碎屑会污染和损坏膜层,所以不要用手去直接接触光学表面,也不要重复使...
  • 【快速入门】如何调制您的半导体激光器?

    2020-08-25 【快速入门】如何调制您的半导体激光器?大部分ILXLightwave®的半导体激光器驱动器和控制器都具有外部调制功能。本文介绍如何使用ILXLightwave®控制器进行调制半导体激光器。使用设备:ILXLightwave®LDC-3724C;安捷伦信号发生器33120。LDC-3724C的调制功能和其他ILXLightwave®的控制器非常类似。1)首先确认调制输入的技术参数,一般可以在说明书里找到这些参数,包括输入方式、转换关系以及带宽等。...
  • 【快速入门】光学成像基础

    2020-08-24 【快速入门】光学成像基础光线跟踪对于光学系统中的透镜成像介绍,可以通过讨论光线跟踪开始。图一是一个理想的薄透镜对物体进行成像的基本光路图。物体的高度为y1,到透镜中心的距离为s1,透镜的焦距为f。透镜在另一端s2的位置成像,像高为y2图一对于理想的薄透镜,它的厚度足够薄,可以不计入焦距。这种情况下,穿过透镜中心的光线发生的折射可以忽略。接下来的讨论基于这种理想薄透镜,这对于一些基本规律的讨论是足够的。透镜的相差及厚度所产生的其他效应在这里不加以考虑。图一中包含三条光路,其中任...
  • 计算功率密度的快捷方式

    2020-08-21 计算功率密度的快捷方式我们常常需要计算激光束的功率密度(功率/面积)。例如,判断光束是否会损伤光学镜片或者探测器。通常功率密度表示为W/cm2的形式,但是,激光束通常用毫米mm表示,做这样的计算会比较复杂,所以您将发现下面的快捷公式很有用:这里d是激光光斑直径,单位mm。如果您对这个公式的起源感兴趣,请继续看下去。否则,用这个公式即可。要得到这个公式,我们先从容易证实的事实开始。1mm光斑直径的面积A的倒数为127cm-2。1/A=127cm-2(1mm直径的光斑)要得到1m...
  • 高功率激光器测量-热电堆(Thermopile)探测器

    2020-08-20 高功率激光器测量-热电堆(Thermopile)探测器激光功率(或能量)是表征激光器重要的参数,主要的探测器类型有光电二极管,热电堆探测器和热释电探测器。除此以外,特殊应用还有光电倍增管,雪崩二极管等。常见高功率激光器(YAG,CO2等)功率测量的主要设备就是热电堆探测器。热电堆探测器的主要优点是:高功率(uW-KW)及响应波段宽(紫外到10um),响应范围为整个红外区域,室温下工作,使用方便。而且整个响应区域,响应度曲线整体平整,随波长变化不大,特别适用于宽波段光学测量。它...
  • InGaAs和Ge红外探测器的差异

    2020-08-19 InGaAs和Ge红外探测器的差异InGaAs和Ge光电二极管探测器都普遍应用于红外(近红外)波段。Newport提供各种可溯源NIST的InGaAs和Ge探测器(例如:低功率校准光电二极管探测器918D和818系列)。这些探测器的参数很相近,除了一些关键部分:如分流电阻和芯片电容。然而,这些差异导致了很大的性能和价格差异。分流电阻分流电阻hao是无限大,但是每个光电二极管有一个有限值,产生Johnson噪声,这个Johnson噪声跟分流电阻成反比。因此,为了小化噪声,需要在...
  • 如何选择光学延迟线

    2020-08-17 如何选择光学延迟线光学延迟线通过扫描改变两束光之间的光程差,在时间分辨超快光谱学或分子动力学实验中*。典型的光学延迟线搭建方法,是将中空回射镜(Retro-reflector)或两面反射镜置于直线位移台上,如下图所示。位移台及其驱动器的选择会对实验结果产生至关重要的影响。下文将逐一介绍相关的核心参数,包括时间延迟窗口长度、小运动步进、重复定位精度、偏移量、绝dui精度和机械误差等。时间延迟窗口长度这是选择直线位移台首先要考虑的参数。延迟窗口长度T指光束经过中空回射系统并返回所...
  • 采用有色滤光片实现激光波长测量

    2020-08-14 采用有色滤光片实现激光波长测量ILXLightwave研发了一种波长测量的技术,该技术基于有色滤光片的波长和透射率的特征关系(见Figure2)。某些波长测量应用需要皮米量级的精度和分辨率,这时可以通过复杂的干涉仪技术实现。而ILXLightwave采用更为简单的技术实现1nm测量精度和0.1nm分辨率的波长测量,该波长测量技术可以很好地满足诸多精度要求一般的测试。Figure1.ColoredFilterGlassAssembly测量装置激光束通过一个积分球进入有色滤光片装...
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