产品简介

HighFinesse LWA系列高精细线宽分析仪
低至 350 Hz 的本征（洛伦兹型）线宽测量
有效的（光学）线宽测量范围可低至 1 kHz
频率噪声密度基底可低至 5 Hz/√Hz，在 10 Hz 至 10 MHz 之间的动
态范围为 60 dB
激光相位噪声密度基底低至 3.2 µrad/√Hz

HighFinesse LWA系列高精细线宽分析仪

产品特点

低至 350 Hz 的本征（洛伦兹型）线宽测量

有效的（光学）线宽测量范围可低至 1 kHz

频率噪声密度基底可低至 5 Hz/√Hz，在 10 Hz 至 10 MHz 之间的动

态范围为 60 dB

激光相位噪声密度基底低至 3.2 µrad/√Hz

高精细线宽分析仪是用于测量、分析和控制激光光源频率和强度噪声的gao端光学仪器。通过将干涉测量工作原理与超低噪声电子技术结合，实现了zhuoyue的灵敏度。实时信号输出提供了快速反馈环路的选项，可用于主动降低激光频率噪声。

分析窄带和宽带激光

高精细LWA-10k系列

10k模型覆盖宽波长范围，可用于分析近红外内的窄带和宽带激光源。分析工具如时间解析频率偏差图、频率噪声密度谱和线形表示，使激光噪声进行详细分析成为可能。

高精细LWA-1k系列

1k型号是专为分析和控制超窄激光器的频率噪声和线形而设计。此外，这些仪器还提供了以ji高分辨率和灵敏度研究激光光源相对强度噪声的选项。

HighFinesse LWA系列高精细线宽分析仪

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